Ученые, университеты Осаки и Хоккайдо, создали метод световой микроскопии, который может использовать запутанные фотоны с целью придания большей контрастности картинке.

По мнению физиков, точность нового способа на 30 процентов выше стандартного квантового предела четкости для обычных фотонов.

Способ является дополнением типа оптической микроскопии, где изображение формируется благодаря интерференции пучков света, которые проходят через предмет. Темные и светлые части формируются тогда, когда путь, который пройден одним из пучков, существенно отличается от пути другого (к примеру, благодаря разной высоте в разных точках предмета).

В качестве тестового предмета ученые использовали пластинку из стекла, где в рельефе нанесли букву «Q». Высота этого рельефа составляла лишь 17 нанометров. При применении обычных фотонов с целью подсветки пластины изображение получилось настолько шумным, что было с трудом видно. Когда использовался источник уже запутанных фотонов с соответствующим способом обработки, контрастность картинки выросла почти на треть.

Измерение такого квантового состояния (обычно базиса имеющейся поляризации) одной из запутанных частиц предоставляет информацию о другой, что можно применить для кодирования информации.

Источник