Нанометровое нагревание позволило выявить ученым поверхностный плазмонный резонанс.

Недавний прогресс в области разработки плазмонных структур привел к появлению новых видов нанометровых оптоэлектронных устройств, а также оптических сенсоров с высоким разрешением. Однако до сих пор ощущалась нехватка инструментов для измерения нанометрового поведения плазмонных структур, которые необходимы для понимания работы устройства и подтверждения теоретических моделей.

 
«Впервые мы сумели измерить нанометровое инфракрасное поглощение в полупроводниковых плазмонных микрочастицах с использованием технологии, которая сочетает атомную силовую микроскопию с инфракрасной спектроскопией», пояснил профессор Уильям Кинг. „Это позволило нам непосредственно наблюдать плазмонное поведение в антеннах инфракрасных микрочастиц“.

Результаты исследования опубликованы в издании Applied Physics Letters.

Исследование поддержано Национальным научным фондом США.

Источник